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授業科目名
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担当教員
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計測機器工学特論
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チェン リー チュイ／二宮 啓
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| PTB709 | 2 | (未登録) | 1 | 前期 | 月 | IV | ||||||||||||
| ［概要と目標］ | ||||||||||||||||||
| [Advanced Instrumentation and Measurement Engineering] Measurement and analysis in the microscopic and nanoscopic scale is indispensable to the technological innovation and scientific discovery. In this course, the student will gain a deeper understanding on the fundamentals and the operating principle of scientific instruments used in the microscopic analysis. The major components, such as ion source, detector and the core technology behind them will also be reviewed. 人間の眼では見ることのできないミクロな領域の物理現象を精密に計測できれば、これまでは未知であった現象の解明や発見につながる。本講義ではミクロな領域の物理現象や物理量を精密に計測する分析装置の動作原理を学ぶとともに、検出器やイオン源など分析装置を構成する要素技術についての理解を深める。 |
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| [到達目標] | ||||||||||||||||||
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*Explain the principles behind the analytical instruments used for the microscopic analysis. *Describe the basic components and their roles in the widely used analytical instruments *Introduce how the analytical and measurement instruments contribute to the basic research and commercial R&D. ・微細領域の物理現象や物理量の測定に利用される分析装置の動作原理を説明できる。 ・分析装置を構成するそれぞれの機器の役割について説明できる。 ・分析装置が大学での研究や企業での開発にどのように貢献しているか説明できる。 |
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| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| Undergraduate level physics and basic chemistry 学部で学ぶ基礎物理・化学の知識を修得していることが望ましい。 |
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| ［評価基準］ | ||||||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
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| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1 General Introduction on the instrumental measurement and analysis (Chen & Ninomiya) 2 Electron beam Instruments (Ninomiya) 3 Optical/laser beam instruments (Chen) 4 X-ray instruments (Ninomiya) 5 Ion beam instruments (Ninomiya) 6 Detectors (Ninomiya) 7 Ion sources for Mass spectrometry I (Chen) 8 Ion sources for Mass spectrometry II (Chen) 9 Fundamentals of Mass spectrometer (Chen) 10-15 Recent advance in Instrumentation and Measurement Engineering (based on recent published literatures) (Chen & Ninomiya) 第１回 計測機器の概要（担当教員：チェン、二宮） 第２回 電子ビーム装置（担当教員：二宮） 第３回 レーザ装置（チェン） 第４回 X線装置（担当教員：二宮） 第５回 イオンビーム装置（担当教員：二宮） 第６回 各種検出器（担当教員：二宮） 第７回 質量分析用イオン源1（担当教員：チェン） 第８回 質量分析用イオン源2（担当教員：チェン） 第９回 質量分析計（担当教員：チェン） 第１０－１５回 計測機器に関する英語論文に関する討論（担当教員：チェン、二宮） [実施形態] 「面接授業」形式とする． ただし、新型感染症等の拡大状況によっては「ライブ型」にて実施する可能性がある． |
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| ［前年度授業に対する改善要望等への対応］ | ||||||||||||||||||
| 前年度非開講科目につき該当しない． | ||||||||||||||||||