山梨大学電子シラバス−授業データ

授業科目名

担当教員

機器分析特論IIＡ

有元　圭介／篠塚　郷貴

時間割番号

単位数

コース

履修年次

期別

曜日

時限

GTI508

(未登録)

集中

(未登録)

［概要と目標］

[AdvancedInstrumentalAnalysisⅡA]
To learn how to use X-ray diffractometers and analyze X-ray patterns

Ｘ線回折測定による実際的解析手法を身につける．

[到達目標]

To understand the fundamental X-ray diffraction measurement methods.
To acquire the ability to operate the X-ray diffractometer

Ｘ線回折測定法の基礎を理解する．
Ｘ線回折装置を操作する能力を身につける．

［必要知識・準備］

1. The student should have a third-year level of physics and chemistry.
2. The student should have completed some laboratory courses and earned credits in the science department of a university.
3. The student's supervisor must agree to the use of the X-ray diffractometer at the Instrumental Analysis Center

1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること．
2. 大学の理系学部において実験科目を履修し単位を修得していること．または，これと同等以上の能力があると客観的に判断できること．
3. 学位論文指導教員が，機器分析センターのＸ線回折装置を使用することに同意していること．

［評価基準］

No	評価項目	割合	評価の観点
1	小テスト／レポート	50 %	小テスト(含口頭試問)またはレポートにて，Ｘ線回折装置に関する基礎知識を習得したかどうかを評価する．
2	発表／表現等	50 %	実際にＸ線回折装置を操作し，安全に，且つ，正しいデータを得ることができる能力を身につけたかどうかを評価する．

［教科書］

(未登録)

［参考書］

(未登録)

［講義項目］

1. Purpose of measurement
2. Principle of measurement
3. Instrument principle
4. Inspection and maintenance of equipment
5. Measurement method 1 (sample preparation and operation 1)
6. Measurement method 2 (sample preparation and operation 2)
7. Measurement method 3 (sample preparation and operation 3)
8. Data Analysis Method 1 (Basic)
9. Data Analysis Method 2 (Advanced)
10. Summary

Note: Students who wish to use the Center's equipment must take courses related to the equipment they wish to
use and obtain credits in advance.

1. 測定目的
2. 測定原理
3. 装置原理
4. 装置の点検・保守
5. 測定方法1（試料調製法、操作法）
6. 測定方法2（試料調製法、操作法）
7. 測定方法3（試料調製法、操作法）
8. データー解析法1（基礎編）
9. データー解析法2（応用編）
10. まとめ

注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。

［前年度授業に対する改善要望等への対応］

前年度と同様に実施