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授業科目名
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担当教員
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機器分析特論IＤ
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佐藤 哲也／篠塚 郷貴
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| GTI504 | 1 | (未登録) | 1 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要と目標］ | ||||||||||||||||||
| X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) makes it easy to analyze the surface chemical state of various solid materials by analyzing the energy of photoelectrons emitted when X-rays are irradiated onto the surface of a solid. This course will help you understand the principles of XPS and learn how to operate the equipment and analyze spectra. Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）は固体表面にＸ線を照射することにより放出される光電子のエネルギーを分析することにより、様々な固体材料の表面化学状態分析を容易に行うことができる。ＸＰＳの原理を理解し、装置の操作方法およびスペクトル解析法を習得する。 |
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| [到達目標] | ||||||||||||||||||
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1. Understand the principles of X-ray photoelectron spectroscopy. 2. Understand the measurement principles and learn the basic operating methods of the equipment. 3. Learn how to analyze spectral data. １．Ｘ線光電子分光法の原理を理解する。 ２．測定原理を理解し、装置の基本的な操作方法を習得する。 ３．スペクトルデータの解析方法を習得する。 |
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| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| Basic knowledge of atomic and molecular spectra in physical chemistry Basic knowledge of vacuum technology and surface science ・物理化学の原子・分子スペクトルに関する基礎知識 ・真空技術、表面科学の基礎知識 |
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| ［評価基準］ | ||||||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1. Measurement Objectives 2. Measurement Principles 3. Device Principles 4. Device Inspection and Maintenance 5. Device Operation Methods (Sample Preparation, Measurement Methods) 6. Qualitative Analysis 7. Quantitative Analysis 8. Data Analysis Method I (Basic) 9. Data Analysis Method II (Advanced) 10. Optional Measurement Methods 10. Summary Note 1: If you wish to use the equipment at the Center, you must first take and pass the course for the equipment you wish to use. Note 2: If you have already passed the course for the equipment you wish to use in your fourth year of undergraduate study, you do not need to take the course again. 1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守 5. 装置の操作方法（試料準備、測定方法） 6. 定性分析 7．定量分析 8. データ解析法I（基礎編） 9. データ解析法II（応用編） 10. オプション計測法 10. まとめ 注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。 注２. 学部4年次で単位を取得した後に使用している機器に関する科目は、改めて履修する必要はない。 |
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| ［前年度授業に対する改善要望等への対応］ | ||||||||||||||||||
| 前年通り実施 | ||||||||||||||||||