|
授業科目名
|
担当教員
|
|||||||||||||||||
|
機器分析特論IＣ
|
綿打 敏司／篠塚 郷貴
|
|||||||||||||||||
|
時間割番号
|
単位数
|
コース
|
履修年次
|
期別
|
曜日
|
時限
|
||||||||||||
| GTI503 | 1 | (未登録) | 1 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要と目標］ | ||||||||||||||||||
| X線マイクロアナライザーは、走査型電子顕微鏡とX線分光元素分析の機能を備えた分析装置であり、固体表面の数ミクロン領域から数センチサイズまでの領域を組成分析するのに有効である。 X線マイクロアナライザーの測定原理や特徴を理解した上で、電子顕微鏡観察、定性分析、定量分析の測定技術を習得する。 |
||||||||||||||||||
| [到達目標] | ||||||||||||||||||
|
X線マイクロアナライザーを使用して、以下の観察や分析ができること。 2. 電子顕微鏡観察をして、画像を撮影できること。 3. 定性分析をして、分析試料中の構成元素を同定できること。 4. 定量分析をして、分析試料中の構成元素の濃度を求めることができること。 |
||||||||||||||||||
| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| X線回折法や分光学について理解していること。 | ||||||||||||||||||
| ［評価基準］ | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| zoomやTeamsによるライブ型授業，Microsoft Streamによるオンデマンド型授業およびmoodleを組み合わせて行う。 1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守 5. 測定方法I（試料調製法、操作法） 6. 測定方法II（試料調製法、操作法） 7. 測定方法III（試料調製法、操作法） 8. データ解析法I（基礎編） 9. データ解析法II（応用編） 10. まとめ 注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。 |
||||||||||||||||||
| ［前年度授業に対する改善要望等への対応］ | ||||||||||||||||||
| R6年度未開講 | ||||||||||||||||||