山梨大学電子シラバス>検索結果一覧>授業データ |
授業科目名
|
担当教員
|
|||||||||||||||||
機器分析特論IB
|
藤井 一郎/山中 淳二/篠塚 郷貴/勝又 まさ代/山本 千綾/河村 隆之介
|
|||||||||||||||||
時間割番号
|
単位数
|
コース
|
履修年次
|
期別
|
曜日
|
時限
|
||||||||||||
GTI502 | 1 | (未登録) | 1 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
[概要と目標] | ||||||||||||||||||
We will learn practical techniques for using scanning electron microscopy in materials science. 走査電子顕微鏡による実際的観察手法を,身につける. |
||||||||||||||||||
[到達目標] | ||||||||||||||||||
We will understand the basic structure of the scanning electron microscope. We will learn the practical skills related to scanning electron microscopy, and acquire the ability to operate the microscopes by oneself. 走査電子顕微鏡の構造の基礎を理解する. 山梨大学機器分析センターに設置されている走査電子顕微鏡に関する専門的知識・技術を習得し,実際に自身で操作する能力を身につける. |
||||||||||||||||||
[必要知識・準備] | ||||||||||||||||||
The applicant must meet all of the following requirements. 1. The applicant have mastered physics or chemistry at the level of a first-year student at a science-related university. 2. The applicant have taken some student laboratory courses and obtained credits in universities, or be objectively judged to have equivalent or greater ability. 3. The thesis supervisor agrees to the use of the transmission electron microscope at the Instrumental Analysis Center. It is desirable that the student has a specific experimental goal for using the transmission electron microscope in the research for his/her thesis 必須項目として,下記1から3の全条件を満たしていること. 1. 理系大学1年生レベルの、物理か化学を、習得していること. 2. 大学の理系学部において,何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること.または,これと同等以上の能力がある と客観的に判断できること. 3. 学位論文指導教員が,機器分析センターの走査電子顕微鏡を使用することに同意していること. なお,自身の学位論文のための研究として,走査電子顕微鏡を用いる具体的目標が定まっていることが望ましい. |
||||||||||||||||||
[評価基準] | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
[教科書] | ||||||||||||||||||
(未登録) | ||||||||||||||||||
[参考書] | ||||||||||||||||||
(未登録) | ||||||||||||||||||
[講義項目] | ||||||||||||||||||
1. Purpose of using TEM in materials science 2. Principle 3. Structure of TEM 4. Maintenance of TEM 5. Specimen preparation-1 6. Specimen preparation-2 7. Specimen preparation-3 8. Data analysis-1 9. Data analysis-2 10. Summary PS. We may discuss which point to focus on at the beginning of this lecture. 1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守 5. 測定方法1試料調製法、操作法) 6. 測定方法2(試料調製法、操作法) 7. 測定方法3(試料調製法、操作法) 8. データー解析法1(基礎編) 9. データー解析法2(応用編) 10. まとめ *全項目を通して,実技部分は,各受講者ごとに,担当教職員のうちの誰かが担当する. 注:走査電子顕微鏡には,様々な使用方法・様々な試料調製方法がある.講義の前半で,どのような手法に重きを置いて学習するかを,受講生と授業担当者,授業担当補助者で,相談して決定する. *原則として、面接授業とする。 |
||||||||||||||||||
[前年度授業に対する改善要望等への対応] | ||||||||||||||||||
前年度と同様に実施 |