授業科目名				担当教員
計測工学特論				チェン　リー　チュイ／二宮　啓
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
GTE507	2	(未登録)	1	後期	水	II
［概要と目標］
[Advanced Measurement Engineering] Sensing and measurement are indispensable to the advancement of science and technology as if the human sensory system to our daily life. The measurement technologies have multiple impacts on the development of basic sciences as well as on the commercial R&D. In this course, student will learn about the latest development and the fundamental principle behind the widely used scientific instruments such as electron microscope, electron spectroscope and mass spectrometer. Recent research topics on the in-situ biological analysis and imaging mass spectrometry will also be reviewed. 科学分野における計測とは，人間でいえば視覚や触覚などの五感の機能に相当する極めて重要な技術である。工学分野においては物理量の精密な測定のために様々な計測装置が開発されており，大学における先端研究や企業における開発部門での分析や評価に欠かせないツールとなっている。本講義では電子顕微鏡や電子分光装置などよく利用される計測技術の動作原理を学ぶとともに，近年研究が進められている生体計測やイメージング技術など最新の計測技術についても学習する。
[到達目標]
*Explain the related vacuum technologies used in the advanced measurement instrument. *Explain the principles behind the measurement and sensing technologies. *Explain the application of measurement technologies in the pursuit of basic science and commercial R&D. ・真空全般に関する基礎的技術を説明できる。 ・各種プローブを用いる計測技術の動作原理を説明できる。 ・計測技術が大学や会社での研究開発でどのように利用されているかを説明できる。
［必要知識・準備］
Basic knowledge on physics and chemistry 学部で学ぶ基礎的な物理・化学の知識を修得していることが望ましい。
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  70  % 講義内容の理解度をレポート等で評価する  2 受講態度  20  % 講義の出席状況や受講態度で評価する  3 発表／表現等  10  % 発表会で自らの研究と関連した計測技術について説明できたか否かで評価する
［教科書］
必要に応じて資料を配布する
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
1 General introduction (Chen, Ninomiya) 2 Fundamentals of vacuum technology (Chen) 3 Vacuum analysis and measurement (Chen) 4 High voltage and gaseous breakdown (Chen) 5 Optical beam technology (Chen) 6 Scanning probe technology (Chen) 7 Mass spectrometry (Chen) 8 Ionization methods (Chen) 9 Electron beam analytical technology (Ninomiya) 10 X-ray beam analytical technology (Ninomiya) 11 Ion beam analytical technology (Ninomiya) 12 Surface and interface analysis (Ninomiya) 13 Sensors and Detectors (Ninomiya) 14 Preparation for oral presentation (Ninomiya) 15 Review and conclusion (Ninomiya) 第1回　計測技術の一般論（担当　チェン・二宮） 第2回　真空の基礎（担当　チェン） 第3回　真空計測（担当　チェン） 第4回　放電現象（担当　チェン） 第5回　光を用いる計測技術（担当　チェン） 第6回　探針を用いる計測技術（担当　チェン） 第7回　質量分析（担当　チェン） 第8回　イオン化（担当　チェン） 第9回　電子線を用いる計測技術（担当　二宮） 第10回　X線を用いる計測技術（担当　二宮） 第11回　イオンビームを用いる計測技術 （担当　二宮） 第12回　表面界面分析（担当　二宮） 第13回　計測のための検出器（担当　二宮） 第14回　発表会のための準備（担当　二宮） 第15回　総括・まとめ（担当　二宮） [実施形態] 「面接授業」形式とする． ただし、新型感染症等の拡大状況によっては「ライブ型」にて実施する可能性がある．
［前年度授業に対する改善要望等への対応］
・特に工夫した点：受講生自らが計測技術について調査する機会を持つようにしたこと。 ・特に良かった点：最新の計測技術や計測の重要性について受講生に知ってもらえたこと。 ・授業評価アンケートにおいて学生から好評だったこと：装置を用いた実演。 ・授業評価アンケートにおいて学生からの改善要望の中で対応が必要と考えること：もう少し丁寧に説明すること。 ・次年度に改善する点：講義資料をさらに理解しやすいように充実させる。