授業科目名				担当教員
機器分析				阪根　英人
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
TAC316	2	(未登録)	3	前期	金	II
［概要］
現代の応用化学の研究には、機器による分析が不可欠である。機器分析は様々な物理・物理化学現象を基にしていて、その現象を分析に活用するために、様々なメカトロニクスが使われている。 　この科目では、自らの研究に必要な機器分析法を選択するための、 ・現象の原理と得られる情報 ・分析機構の原理 ・得られる情報の解釈の基本 について理解する。
［具体的な達成目標］
・自分の研究内容・試料に適した機器分析法を選べること。 ・基本から逸脱しない試料調製と操作を考えて行えること。 ・得られた情報を客観的に評価できること。
［必要知識・準備］
基礎分析化学、分析化学、物理化学各科目、量子化学、ならびに物理各科目の内容が、基礎知識として必要である。 機械に関する基本的な素養も必要である。
［評価方法・評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 試験：期末期  50  % 関連する内容ごとに試験を行う。  2 試験：中間期  40  % 関連する内容ごとに試験を行う。  3 受講態度  10  % 8回以上の講義の出席と、すべての試験の受験が必要である。
［教科書］
大谷 肇　編著、外17名著, エキスパート応用化学テキストシリーズ　機器分析, 講談社, ISBN:9784061568075 Peter Atkins, Julio de Paula 著、中野元裕、上田貴洋、奥村光隆、北河康隆 訳, アトキンス 物理化学(上) 第10版, 東京化学同人, ISBN:9784807909087 Peter Atkins, Julio de Paula 著、中野元裕、上田貴洋、奥村光隆、北河康隆 訳, アトキンス 物理化学(下) 第10版, 東京化学同人, ISBN:9784807909094 小熊幸一, 酒井忠雄編著 ; 石田康行 [ほか] 著, 基礎分析化学, 朝倉書店, ISBN:9784254141023
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
機器分析序論 分光分析の基礎 原子吸光分析 プラズマ発光分析とプラズマ質量分析 吸光光度法と蛍光光度法 赤外分光分析とラマン分光分析 2.から6.までの試験 Ｘ線分析 表面分析 顕微鏡観察 核磁気共鳴の基礎 核磁気共鳴分析 有機質量分析 熱分析 8.から14.までの試験
［教育方法］
各機器分析法の、 ・現象の原理の物理化学 ・機器の構成の基本 ・得られる情報の例と評価の基本 を講義する。現象の物理化学の説明に、物理化学の教科書を使用する。 マスク着用等の基本的な感染拡大防止対策を行って対面で講義する、あるいはライブ授業で行う。
［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］
(未登録)
［その他］
この科目は、個々の機器分析法の操作を学ぶものではない。そのような講義は、各機器分析特論にて行われる。