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授業科目名
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担当教員
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固体分析科学
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山中 淳二
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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TAM219 | 2 | (未登録) | 2 | 後期 | 金 | II | ||||||||
[概要] | ||||||||||||||
物質科学や材料工学分野の研究にとって重要な,各種分析手法の基礎原理を理解する. | ||||||||||||||
[具体的な達成目標] | ||||||||||||||
基礎的知識として、各種分析手法の基礎原理を理解する. 専門的知識・技術として、各種分析手法の長所と短所を理解する(将来,目的に応じた分析手法の使い分けができるようになるために). |
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[必要知識・準備] | ||||||||||||||
理系学部の大学1年生レベルの物理を理解していること. 理系学部の大学1年生レベルの化学を理解していること. |
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[評価方法・評価基準] | ||||||||||||||
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[教科書] | ||||||||||||||
(未登録) | ||||||||||||||
[参考書] | ||||||||||||||
[講義項目] | ||||||||||||||
概ね下記15項目を講義する. 必要に応じて,関連する基礎学問についても講義する. 必要に応じて,講義順序の変更,各講義項目の時間配分を変更する場合もある. 1. 各種機器分析装置とそれらの用途の紹介 2. 電子線源の原理 3. 走査電子顕微鏡(SEM) 4. 電子によるX線の発生, EDX 5. オージェ分光分析 6. XPS 7. 中間期での総括と試験 8. 結晶と回折の基礎, X線回折(粉末X線回折) 9. X線回折(種々の手法),EPMA(WDX, XMA) 10. 結晶からの回折上級編-1 11. 結晶からの回折上級編-2 12. 透過電子顕微鏡(TEM)-装置 13. 透過電子顕微鏡(TEM)-観察手法 14. 後半の総括と試験 15. 講義全体の総括(状況により,他の分析手法紹介,最終レポート課題提示をする場合がある) |
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[教育方法] | ||||||||||||||
CNS & Moodleで連絡をとりながらの、オンデマンド・オンラインですすめる。 | ||||||||||||||
[実務経験のある教員による授業科目の概要] | ||||||||||||||
分析会社での実務経験のある教員が、機器分析の現場で苦労する点などの情報も交えて、講義する。 | ||||||||||||||
[JABEEプログラムの学習・教育目標との対応] | ||||||||||||||
(未登録) | ||||||||||||||
[その他] | ||||||||||||||
*評価における,各試験とレポートの割合は,講義中に受講生と相談して変更する場合がある. |