授業科目名				担当教員
機器分析				阪根　英人
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
TAC316	2	(未登録)	3	前期	金	II
［概要］
現代の応用化学の研究には、機器による分析が不可欠である。機器分析は様々な物理・物理化学現象を基にしていて、その現象を分析に活用するためには、様々なメカトロニクスが使われている。 　この科目では、自らの研究に必要な機器分析法を選択するための、 ・現象の原理と得られる情報 ・分析機構の原理 ・得られる情報の解釈の基本 について理解する。
［具体的な達成目標］
・自分の研究内容・試料に適した機器分析法を選べること。 ・基本から逸脱しない試料調製と操作を行えること。 ・客観的な情報の評価ができること
［必要知識・準備］
基礎分析化学、分析化学、物理化学各科目、量子化学、ならびに物理各科目の内容が、基礎知識として必要である。 機械に関する基本的な素養も必要である。
［評価方法・評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 試験：期末期  30  % 関連する内容ごとに試験を行う。  2 試験：中間期  60  % 関連する内容ごとに試験を行う。  3 受講態度  10  % 8回以上の出席と、すべての試験の受験が必要である。
［教科書］
大谷 肇　編著、外17名著, エキスパート応用化学テキストシリーズ　機器分析, 講談社, ISBN:9784061568075 Peter Atkins, Julio de Paula 著、中野元裕、上田貴洋、奥村光隆、北河康隆 訳, アトキンス 物理化学(上) 第10版, 東京化学同人, ISBN:9784807909087 Peter Atkins, Julio de Paula 著、中野元裕、上田貴洋、奥村光隆、北河康隆 訳, アトキンス 物理化学(下) 第10版, 東京化学同人, ISBN:9784807909094
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
機器分析序論 分光分析の基礎 原子吸光分析 プラズマ発光分析とプラズマ質量分析 吸光光度法と蛍光光度法 赤外分光分析とラマン分光分析 2.から6.までの試験 Ｘ線分析 表面分析 顕微鏡観察 8.から10.までの試験 核磁気共鳴分析 有機質量分析 熱分析 12.から14.までの試験
［教育方法］
各機器分析法の、 ・現象の原理の物理化学 ・機器の構成の基本 ・得られる情報の例と評価の基本 を講義する。現象の物理化学の説明に、物理化学の教科書を使用する。
［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］
(未登録)
［その他］
この科目は、個々の機器分析法の操作を学ぶものではない。