授業科目名				担当教員
機器分析特論IＤ				佐藤　哲也
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
GTI504	1	(未登録)	1	集中	(未登録)	(未登録)
［概要と目標］
Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）は固体表面にＸ線を照射して励起・放出される光電子のエネルギーを分析することにより、様々な固体材料の表面化学状態分析を容易に行うことができる。ＸＰＳの原理を学び、装置の操作方法およびスペクトル解析法を習得する。
[到達目標]
１．Ｘ線光電子分光法の原理を理解する。 ２．測定の原理を理解し装置の基本的な操作方法を習得する。 ３．測定データの基本的な解析方法を習得する。
［必要知識・準備］
物理化学の原子・分子スペクトルに関する基礎知識
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  50  % 測定原理に関する理解度  2 受講態度  50  % 操作方法についての理解度、積極性
［教科書］
(未登録)
［参考書］
日本分光学会, Ｘ線光電子分光法, 講談社, ISBN:9784065140475, (分光法シリーズ６)
［講義項目］
1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守　 5. 装置の操作方法（試料準備、測定方法） 6. 定性分析 7．定量分析 8. データ解析法I（基礎編） 9. データ解析法II（応用編） 10. まとめ 注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。 注２. 学部4年次で単位を取得した後に使用している機器に関する科目は、改めて履修する必要はない。