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授業科目名
担当教官
無機機器分析
川久保 進
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
275091 2 AA 3 前期 II
[概要]
無機成分の分析に広く用いられる、吸光光度分析法・蛍光分析法・化学発光法、原子スペクトル分析法(原子吸光法・フレーム分析法・発光分光法)、電気化学分析法、X線分析法、電子分光法、ICP質量分析法、熱分析法について、原理・装置・応用などを講義する。
[具体的な達成目標]
1.代表的な機器分析法の特徴を理解する。
2.様々な分析課題に対して適切な分析法を選択し、分析結果を正しく評価できる力を養う。
[必要知識・準備]
「基礎分析化学」及び「分析化学」をよく理解しておくこと。物理の基礎的知識を必要とする。
[評価基準]
(1) 演習問題集(別途配布)から主に出題される演習小テスト(10点満点で3,4回実施)
(2) 期末試験(100点満点)
(3) (1)と(2)の結果について演習小テスト満点を20~50点(期末試験満点は80~50点)になるように配分した総合点(100点満点)を成績とする。
[教科書]
  1. 田中誠之・飯田芳男著, 「機器分析(三訂版)」, 裳華房, ISBN:478533133X
[参考書]
  1. 氏平祐輔著, 「化学分析」, 昭晃堂, ISBN:4-7856-6031-7
[講義項目]
  1.序論
  2.吸光光度分析法・関連分析法
  3.蛍光分析法・化学発光法
  4.原子スペクトル分析法(原子吸光法)
  5.原子スペクトル分析法(フレーム分析法・発光分光法)
  6.原子スペクトル分析法(発光分光法)
  7.電気化学分析法(電位差分析法・化学センサー法・電解重量分析法)
  8.電気化学分析法(電量分析法・ボルタンメトリー・電導度分析法)
  9.X線分析法(分析法の基礎・蛍光X線法)
 10.X線分析法(蛍光X線法)
 11.X線分析法(X線回折法)
 12.X線分析法・電子分光法(X線マイクロアナリシス・X線光電子分光法)
 13.ICP質量分析法
 14.熱分析法(熱重量測定法・示差熱分析法・示差走査熱量測定法)
 15.分析法の設計とまとめ
[教育方法]
(1) 別途配布する演習問題集を使って単元ごとに演習小テストを実施し、学習した内容を確認しながら講義を進める。
(2) 指定した教科書の内容をまとめ、補ったものを資料として配布し、さらにOHPでも投影し、講義に集中できるようにする。
[JABEEプログラムの学習・教育目標との対応]
(未登録)
[その他]
(未登録)