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授業科目名
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担当教官
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状態分析特論
(本年度非開講) |
岩附 正明
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| 416000 | 2 | (未登録) | 1 | 後期 | 月 | II |
| ［概要と目標］ | ||||||
| ＜岩附正明教授＞ 物質の物理的・化学的性質は元素組成だけでなく、原子・イオンまたはその集合体の結合状態や空間的配置なども考えないと正しく理解できない。従って、それを明らかにする状態分析に対する要求がますます高まっている。本科目では、状態分析の方法論を示した上で、X線その他のスペクトルを利用する有力な状態分析の方法と状態分析のための分離濃縮法を講義し、その応用例を紹介する。 |
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| ［必要知識・準備］ | ||||||
| 分析化学・機器分析に関する基礎的知識 | ||||||
| ［評価基準］ | ||||||
| 講義中の質疑応答、レポート、外国文献の紹介内容、出席状況などを総合して行う。 | ||||||
| ［教科書］ | ||||||
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| ［参考書］ | ||||||
| (未登録) | ||||||
| ［講義項目］ | ||||||
| １．序論 ２．Ｘ線回折法 ３．蛍光Ｘ線スペクトル法 ４．Ｘ線吸収スペクトル法 ５．Ｘ線マイクロアナリシス ６．Ｘ線光電子分光法 ７．その他の状態分析法 ８．状態分析のための試料調製法 ９．状態分析のための分離濃縮法 １０．鉄鋼の状態分析 １１．アルミニウム合金の状態分析 １２．セラミックスの状態分析 １３．環境試料の状態分析 １４．状態分析に関連する外国文献の輪読 １５．まとめ |
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