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授業科目名
担当教官
無機機器分析
岩附 正明
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
275091 2 AA 3 前期 II
[概要と目標]
無機成分の分析に広く用いられる、吸光光度分析法・蛍光分析法・化学発光法、原子スペクトル分析法(原子吸光法・フレーム分析法・発光分光法)、電気化学分析法、X線分析法、電子分光法、ICP質量分析法、熱分析法について、原理・装置・応用などを講義する。これにより、これらの代表的な機器分析法について、重要な特徴を理解するとともに、様々な分析課題に対して、適切な分析法を選択でき、また適合するような分析法の概要を設計したり、分析結果を正しく評価できる力を養うことを目標とする。
[必要知識・準備]
「基礎分析化学」及び「分析化学」をよく理解しておくこと。また、化学と物理の基礎的な素養も大事である。
[評価基準]
成績評価基準は、講義目標に対する達成度であり、最終評価には期末試験を最も重視し、中間に行うミニテスト結果を加える。また、授業中の質疑応答、レポートなどを補助として用いる。
[教科書]
  1. 田中誠之・飯田芳男著, 「機器分析(三訂版)」, 裳華房
[参考書]
  1. 氏平祐輔著, 「化学分析」, 昭晃堂
[講義項目]
  1.序論
  2.吸光光度分析法・関連分析法
  3.蛍光分析法・化学発光法
  4.原子スペクトル分析法(原子吸光法)
  5.原子スペクトル分析法(フレーム分析法・発光分光法)
  6.原子スペクトル分析法(発光分光法)
  7.電気化学分析法(電位差分析法・化学センサー法・電解重量分析法)
  8.電気化学分析法(電量分析法・ボルタンメトリー・電導度分析法)
  9.X線分析法(分析法の基礎・蛍光X線法)
 10.X線分析法(蛍光X線法)
 11.X線分析法(X線回折法)
 12.X線分析法・電子分光法(X線マイクロアナリシス・X線光電子分光法)
 13.ICP質量分析法
 14.熱分析法(熱重量測定法・示差熱分析法・示差走査熱量測定法)
 15.分析法の設計とまとめ