|
授業科目名
|
担当教官
|
|||||
|
Ｘ線材料解析特論
|
吉村 順一
|
|||||
|
時間割番号
|
単位数
|
コース
|
履修年次
|
期別
|
曜日
|
時限
|
| 416690 | 2 | (未登録) | 1 | 前期 | 火 | III |
| ［概要と目標］ | ||||||
| Ｘ線の動力学回折を基礎に置き，シンクロトロン放射光利用を視野に入れた，各種結晶材料および非晶質物質の先端的構造解析評価方法を教授する．Ｘ線干渉計測法，位相コントラスト造影法，トポグラフィ，多結晶回折法，異常散乱法，等々の解析評価技術の中から２，３項目を選び，それらについて論文輪講を中心とした授業を行う． | ||||||
| ［必要知識・準備］ | ||||||
| (未登録) | ||||||
| ［評価基準］ | ||||||
| (未登録) | ||||||
| ［教科書］ | ||||||
|
|
||||||
| ［参考書］ | ||||||
|
|
||||||
| ［講義項目］ | ||||||
| (未登録) | ||||||