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授業科目名
担当教官
機器分析化学第二
岩附 正明
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
265180 2 AA 3 前期 II
[概要と目標]
「機器分析化学第一」で講義した汎用機器分析法に次いでよく用いられる、X線分析法、電子分光法、赤外吸収・ラマンスペクトル分析法、磁気共鳴吸収分析法、質量分析法及び熱分析法について、原理・装置・応用などを講義する。これにより、これらの代表的な機器分析法について、重要な特徴を理解するとともに、様々な分析課題に対してそれらを利用する分析法の概要を設計したり、分析結果を正しく評価できる力を養うことを目標とする。
[必要知識・準備]
「定量分析化学」及び「機器分析化学第一」をよく理解しておくこと。また、化学と物理学の基礎的な素養も大事である。
[評価基準]
成績評価は、期末試験のほか、授業中に行う数回のミニテスト、授業中の質疑応答、レポート、出席状況などを総合して行う。
[教科書]
  1. 「機器分析(三訂版)」, 裳華房, ISBN:4-7853-3133-X
[参考書]
  1. 「化学分析」, 昭晃堂, ISBN:4785660317
[講義項目]
 1.序論             
 2.X線分析法と電子分光法 (1)分析法の基礎
 3.X線分析法と電子分光法 (2)蛍光X線分析法(その1)
 4.X線分析法と電子分光法 (2)蛍光X線分析法(その2)
 5.X線分析法と電子分光法 (3)X線回折分析法
 6.X線分析法と電子分光法 (4)X線マイクロアナリシス;(5)X線光電子分光法
 7.赤外吸収・ラマンスペクトル分析法 (1)赤外吸収スペクトル法  
 8.赤外吸収・ラマンスペクトル分析法 (2)ラマンスペクトル法
 9.磁気共鳴吸収分析法  (1) 核磁気共鳴吸収法
10.磁気共鳴吸収分析法  (2) 常磁性共鳴吸収法  
11.質量分析法 (1)分析法の基礎
12.質量分析法 (2)測定方法
13.質量分析法 (3)応用
14.熱分析法 (1)熱重量測定法;(2)示差熱分析法;(3)示差走査熱量測定法
15.分析法の設計とまとめ