授業科目名
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機器分析特別講義IIIC
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時間割番号
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TPC415
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担当教員名
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武井 貴弘/阪根 英人/勝又 まさ代
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開講学期・曜日・時限
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集中・(未登録)・(未登録)
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単位数
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1
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<対象学生>
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機器分析センター科目
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<授業の目的>
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無機成分の分析装置である誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-OES) 及び蛍光X線分析装置 (XRF) の原理、構造、応用法について学ぶとともに、分析のための試料の前処理法、分析操作などの実習を行なう。
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<本授業科目による獲得・涵養が特に期待されるコンピテンシー>(能力・資質)
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工学部>機械工学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | |
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ME-A | 専門 | 機械工学の知識・技術に加えて、機械工学に関する最先端の技術を修得し、多様化する社会の要請に応じて、それを利用・応用することができる。 | ◎ |
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工学部>電気電子工学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | 説明 | |
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EE-A | 共通 | 教養 | 多様な知識の獲得 | 単位を取得した教養教育科目の概要と、重要な基礎的事項を説明できる。 | ◎ |
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工学部>コンピュータ理工学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | 説明 | |
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CS-A | 共通 | 教養 | 多様な知識の獲得 | 単位を取得した教養教育科目の概要と、重要な基礎的事項を説明できる。 | ◎ |
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工学部>メカトロニクス工学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | 説明 | |
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JM-A | 共通 | 教養 | 多様な知識の獲得 | 単位を取得した教養教育科目の概要と、重要な基礎的事項を説明できる。 | ◎ |
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工学部>土木環境工学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | 説明 | |
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CE-A | 共通 | 教養 | 多様な知識の獲得 | 単位を取得した教養教育科目の概要と、重要な基礎的事項を説明できる。 | ◎ |
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工学部>応用化学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | |
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AC-A | 専門 | 4.化学の専門知識・技術を活用し、新素材・エネルギー・環境等の分野における問題解決に取り組むことができる。 | C.分析化学 | C3.吸光光度分析法、蛍光分析法、化学発光法、原子スペクトル分析法(原子吸光法、フレーム分析法、発光分光法)、電気化学分析法、X線分析法、質量分析法、熱分析法を説明できる。 | ◎ |
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工学部>先端材料理工学科向け | 記号 | コンピテンシー(能力・資質) | |
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AM-A | 専門 | 2.専門的知識・技術 | 材料科学 | ○ |
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<到達目標> 到達目標とは
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目標NO | 説明 | コンピテンシーとの対応 |
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ME | EE | CS | JM | CE | AC | AM |
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1 | ・ICP-OES、XRFの原理と構造を理解する。 | ME-A | EE-A | CS-A | JM-A | CE-A | AC-A | AM-A | 2 | ・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な分析装置を選択できるようになる。 | ME-A | EE-A | CS-A | JM-A | CE-A | AC-A | AM-A | 3 | ・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な前処理、濃縮法などを選択し、実施できるようになる。 | ME-A | EE-A | CS-A | JM-A | CE-A | AC-A | AM-A | 4 | ・装置の操作法を習得する。 | ME-A | EE-A | CS-A | JM-A | CE-A | AC-A | AM-A |
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<成績評価の方法>
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目標No | 割合 | 評価の観点 |
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1 | 25% | ・ICP-OES、XRFの原理と構造を理解する。 | 2 | 25% | ・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な分析装置を選択できるようになる。 | 3 | 25% | ・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な前処理、濃縮法などを選択し、実施できるようになる。 | 4 | 25% | ・装置の操作法を習得する。 | 合計 | 100% | |
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<授業の方法>
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・基礎的な化学及び試薬に関する知識 ・測定したい試料に関する知識 (組成、物性等) ・溶液の調製、希釈等、基本的な化学実験の経験
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<受講に際して・学生へのメッセージ>
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(未登録)
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<テキスト>
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(未登録)
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<参考書>
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- 大谷肇編著 ; 梅村知也, 金子聡, 伊藤彰英 [ほか] 著, 機器分析, 講談社, ISBN:9784061568075,
(2015年出版 エキスパート応用化学テキストシリーズ)
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<授業計画の概要>
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1 | タイトル | ICP/OECと蛍光X線分析の講習 |
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事前学習 事後学習 | 原子スペクトル分析法に関する概説を読み、構造や原理を予習する。
蛍光X線分析装置 (XRF) の原理と構造に関する概説を読み、構造や原理を予習する。 |
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授業内容 | 1. 誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-OES) の構造と原理
原子スペクトル分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。
2. 蛍光X線分析装置 (XRF) の原理と構造
他のX線分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。
3. 標準溶液の調製法
検量線作成に必要な標準溶液の調製法について解説する。
4. 酸分解などの溶液試料調製法
主に、ICP/OESで測定する際に必要となる、固体試料の溶液化の方法として広く用いられる、過塩素酸分解、フッ化水素酸分解、マイクロ波分解法などを解説する。
5. 固体試料の調製法
XRF分析のための試料調製法として、粉末試料を固化させるためのガラスビード法や高圧プレス法について解説する。
6. 試料調製
受講者の研究で用いる試料を自身で前処理するとともに、測定に必要な標準溶液を調製する。(実習)
7. 測定
6で調製した試料を用い、実際に測定する。
8. まとめ
6, 7 の結果をレポートしてまとめる。 |
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2 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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3 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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4 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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5 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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6 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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7 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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8 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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9 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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10 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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11 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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12 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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13 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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14 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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15 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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16 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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17 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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18 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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19 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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20 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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21 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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22 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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23 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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24 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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25 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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26 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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27 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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28 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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29 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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30 | タイトル | |
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事前学習 事後学習 | |
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授業内容 | |
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<備考>
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(未登録)
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