山梨大学電子シラバス>検索結果一覧>授業データ



授業科目名 機器分析特別講義IIIＣ
時間割番号 TPC415
担当教員名 武井　貴弘／阪根　英人／勝又　まさ代
開講学期・曜日・時限 集中・(未登録)・(未登録) 単位数 1
＜対象学生＞
機器分析センター科目
＜授業の目的＞
無機成分の分析装置である誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-OES) 及び蛍光X線分析装置 (XRF) の原理、構造、応用法について学ぶとともに、分析のための試料の前処理法、分析操作などの実習を行なう。
＜本授業科目による獲得・涵養が特に期待されるコンピテンシー＞（能力・資質）
工学部>機械工学科向け
工学部>電気電子工学科向け
工学部>コンピュータ理工学科向け
工学部>メカトロニクス工学科向け
工学部>土木環境工学科向け
工学部>応用化学科向け
記号コンピテンシー（能力・資質） 
AC-A専門4.化学の専門知識・技術を活用し、新素材・エネルギー・環境等の分野における問題解決に取り組むことができる。C.分析化学C3.吸光光度分析法、蛍光分析法、化学発光法、原子スペクトル分析法（原子吸光法、フレーム分析法、発光分光法）、電気化学分析法、Ｘ線分析法、質量分析法、熱分析法を説明できる。◎
工学部>先端材料理工学科向け
記号コンピテンシー（能力・資質） 
AM-A専門2.専門的知識・技術材料科学○
＜到達目標＞  到達目標とは
目標NO説明コンピテンシーとの対応
ACAM
1・ICP-OES、XRFの原理と構造を理解する。AC-AAM-A
2・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な分析装置を選択できるようになる。AC-AAM-A
3・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な前処理、濃縮法などを選択し、実施できるようになる。AC-AAM-A
4・装置の操作法を習得する。AC-AAM-A
＜成績評価の方法＞
目標No割合評価の観点
125%・ICP-OES、XRFの原理と構造を理解する。
225%・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な分析装置を選択できるようになる。
325%・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な前処理、濃縮法などを選択し、実施できるようになる。
425%・装置の操作法を習得する。
合計100% 
＜授業の方法＞
・基礎的な化学及び試薬に関する知識
・測定したい試料に関する知識 (組成、物性等)
・溶液の調製、希釈等、基本的な化学実験の経験
＜受講に際して・学生へのメッセージ＞
(未登録)
＜テキスト＞
(未登録)
＜参考書＞
  1. 大谷肇編著 ; 梅村知也, 金子聡, 伊藤彰英 [ほか] 著, 機器分析, 講談社, ISBN:9784061568075,
    (2015年出版 エキスパート応用化学テキストシリーズ)
＜授業計画の概要＞
1タイトル
事前学習
事後学習
授業内容1. 誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-OES) の構造と原理
　原子スペクトル分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。
2. 蛍光X線分析装置 (XRF) の原理と構造
　他のX線分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。
3. 標準溶液の調製法
　検量線作成に必要な標準溶液の調製法について解説する。
4. 酸分解などの溶液試料調製法
　主に、ICP/OESで測定する際に必要となる、固体試料の溶液化の方法として広く用いられる、過塩素酸分解、フッ化水素酸分解、マイクロ波分解法などを解説する。
5. 固体試料の調製法
　XRF分析のための試料調製法として、粉末試料を固化させるためのガラスビード法や高圧プレス法について解説する。
6. 試料調製
　受講者の研究で用いる試料を自身で前処理するとともに、測定に必要な標準溶液を調製する。(実習)
7. 測定
　6で調製した試料を用い、実際に測定する。
8. まとめ
　6, 7 の結果をレポートしてまとめる。
＜備考＞
(未登録)