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授業科目名 機器分析特別講義IF
時間割番号 TPC408
担当教員名 近藤 英一
開講学期・曜日・時限 集中・(未登録)・(未登録) 単位数 1
<対象学生>
機器分析センター科目
<授業の目的>
高精度形状物性測定システムは複数の装置からなる。全体の構成ならびに特定の装置の原理・特長と操作法を学ぶ
<本授業科目による獲得・涵養が特に期待されるコンピテンシー>(能力・資質)
工学部>機械工学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質) 
ME-A専門機械工学の知識・技術に加えて、機械工学に関する最先端の技術を修得し、多様化する社会の要請に応じて、それを利用・応用することができる。
工学部>電気電子工学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質) 
EE-A専門2.電子デバイス電子物性と量子力学の基礎的事項、半導体材料の電気的、熱的及び光応答特性(バンド構造、抵抗率、移動度、pn型、キャリア生成とキャリア寿命など)について説明できる。
工学部>コンピュータ理工学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質) 
CS-A専門2.技術者として自らの活動が自然や社会、人に与える影響を理解することができ、責任をもって問題解決にあたることができる。
工学部>メカトロニクス工学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質) 
JM-A専門4.三分野の知識を利用した分野をまたがった活用三分野を横断した考え方をもとにした議論の上で、結果を導き出すことができる。
工学部>土木環境工学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質)説明 
CE-A専門(D)問題解析・分析能力主要分野に関する実験・実習における実体験を通じて、現象の理解を深め、これを応用することができる。
工学部>応用化学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質) 
AC-A専門4.化学の専門知識・技術を活用し、新素材・エネルギー・環境等の分野における問題解決に取り組むことができる。C.分析化学C3.吸光光度分析法、蛍光分析法、化学発光法、原子スペクトル分析法(原子吸光法、フレーム分析法、発光分光法)、電気化学分析法、X線分析法、質量分析法、熱分析法を説明できる。
工学部>先端材料理工学科向け
記号コンピテンシー(能力・資質) 
AM-A専門2.専門的知識・技術材料科学
<到達目標>  到達目標とは
目標NO説明コンピテンシーとの対応
MEEECSJMCEACAM
1高精度形状物性測定システムにどんなものがあるか。それぞれの違いは何か。ある特定の装置の原理・特長と操作法の理解。以上について学ぶ。ME-AEE-ACS-AJM-ACE-AAC-AAM-A
<成績評価の方法>
目標No割合評価の観点
1100%受講態度と課題への取り組み状況
合計100% 
<授業の方法>
材料の工学一般
<受講に際して・学生へのメッセージ>
(未登録)
<テキスト>
(未登録)
<参考書>
(未登録)
<授業計画の概要>
1タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容高精度形状物性測定システムについて。
それぞれの装置の原理、構成、特長
一台を例として特定の装置の原理・特長と操作法の理解
2タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
3タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
4タイトル  
事前学習
事後学習
 
授業内容 
5タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
6タイトル
事前学習
事後学習
 
授業内容 
7タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
8タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
9タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
10タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
11タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
12タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
13タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
14タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
15タイトル 
事前学習
事後学習
 
授業内容 
<実務経験のある教員による授業科目の概要>
装置利用と保守
<備考>
(未登録)