授業科目名				担当教員
機器分析特別講義IIＡ				佐藤　博
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
TPC410	1	機器分析センター科目	4	集中	(未登録)	(未登録)
［概要］
Ｘ線回折測定による実際的解析手法を，身につける．
［具体的な達成目標］
Ｘ線回折の構造の基礎を理解する． 　山梨大学機器分析センターに設置されているＸ線回折装置を，実際に自身で操作する能力を身につける
［必要知識・準備］
1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること． 2. 大学の理系学部において，何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること．または，これと同等以上の能力があると客観的に判断できること． 3. 学位論文指導教員が，機器分析センターのＸ線回折装置を使用することに同意していること．
［評価方法・評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  50  % 小テスト(含口頭試問)またはレポートにて，Ｘ線回折装置に関する基礎知識を習得した課どうかを，評価する．  2 発表／表現等  50  % 実際に機器分析センターのＸ線回折装置を操作し，安全に，且つ，正しいデータを得ることができる能力を身につけたかどうかを，評価する．
［教科書］
(未登録)
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守 5. 測定方法1試料調製法、操作法） 6. 測定方法2（試料調製法、操作法） 7. 測定方法3（試料調製法、操作法） 8. データー解析法1（基礎編） 9. データー解析法2（応用編） 10. まとめ 注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。
［教育方法］
配布資料と実機を用いて，実践的内容を教育する．
［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］
(未登録)
［その他］
(未登録)