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授業科目名
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担当教員
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機器分析特別講義ＩＤ
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佐藤 哲也／篠塚 郷貴
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| TPC406 | 1 | 機器分析センター科目 | 4 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要］ | ||||||||||||||||||
| Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）は固体表面にＸ線を照射して励起・放出される光電子のエネルギーを分析することにより、様々な固体材料の表面化学状態分析を容易に行うことができる。ＸＰＳの原理を学び、装置の操作方法およびスペクトル解析法を習得する。 | ||||||||||||||||||
| ［具体的な達成目標］ | ||||||||||||||||||
| １．Ｘ線光電子分光法の原理を理解する。 ２．測定の原理を理解し装置の基本的な操作方法を習得する。 ３．測定データの基本的な解析方法を習得する。 |
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| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| 真空技術、表面、分光学に関する基礎知識 | ||||||||||||||||||
| ［評価方法・評価基準］ | ||||||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守 5. 装置の操作方法（試料準備、測定方法） 6. 定性分析 7．定量分析 8. データ解析法I（基礎編） 9. データ解析法II（応用編） 10. まとめ 注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。 注２. 学部4年次で単位を取得した後に使用している機器に関する科目は、改めて履修する必要はない。 |
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| ［教育方法］ | ||||||||||||||||||
| ＸＰＳの原理や特徴を十分に理解させた上で、装置の正しい使用法ならびに解析方法を指導することにより、卒業研究に十分活用できるようにする | ||||||||||||||||||
| ［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［その他］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||