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授業科目名
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担当教員
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機器分析特別講義ＩＣ
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田中 功／綿打 敏司／鍋谷 暢一／篠塚 郷貴
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| TPC405 | 1 | 機器分析センター科目 | 4 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要］ | ||||||||||||||||||
| X線マイクロアナライザーは、走査型電子顕微鏡とX線分光元素分析の機能を備えた分析装置であり、固体表面の数ミクロン領域から数センチサイズまでの領域を組成分析するのに有効である。 X線マイクロアナライザーの測定原理や特徴を理解した上で、電子顕微鏡観察、定性分析、定量分析の測定技術を習得する。 |
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| ［具体的な達成目標］ | ||||||||||||||||||
| X線マイクロアナライザーを使用して、以下の観察や分析ができること。 2. 電子顕微鏡観察をして、画像を撮影できること。 3. 定性分析をして、分析試料中の構成元素を同定できること。 4. 定量分析をして、分析試料中の構成元素の濃度を求めることができること。 |
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| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| X線回折法や分光学について理解していること。 | ||||||||||||||||||
| ［評価方法・評価基準］ | ||||||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1. 測定目的 2. 測定原理 3. 装置原理 4. 装置の点検・保守 5. 測定方法I（試料調製法、操作法） 6. 測定方法II（試料調製法、操作法） 7. 測定方法III（試料調製法、操作法） 8. データ解析法I（基礎編） 9. データ解析法II（応用編） 10. まとめ 注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。 |
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| ［教育方法］ | ||||||||||||||||||
| X線マイクロアナライザーの原理や特徴を十分に理解させた上で、装置の使用法ならびに解析方法を指導することにより、卒業研究に十分活用できるようにする。 | ||||||||||||||||||
| ［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［その他］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||