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授業科目名
担当教員
機器分析特論IIA
佐藤 博
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
320111A 1 (未登録) 1 集中 (未登録) (未登録)
[概要と目標]
 X線回折装置による測定法を,身につける.
[到達目標]
 X線回折装置の構造の基礎を理解する.<BR> 山梨大学機器分析センターに設置されているX線回折装置を,実際に自身で操作する能力を身につける.
[必要知識・準備]
 必須項目として,下記1から3の全条件を満たしていること.<BR>1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること.<BR>2. 大学の理系学部において,何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること.または,これと同等以上の能力があると客観的に判断できること.<BR>3. 学位論文指導教員が,機器分析センターのX線回折装置を使用することに同意していること.
[評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1小テスト/レポート 50  %小テスト(含口頭試問)またはレポートにて,X線回折装置に関する基礎知識を習得した課どうかを,評価する. 
2発表/表現等 50  %実際に機器分析センターのX線回折装置を操作し,安全に,且つ,正しいデータを得ることができる能力を身につけたかどうかを,評価する 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
(未登録)
[講義項目]
1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法1試料調製法、操作法)<BR>6. 測定方法2(試料調製法、操作法)<BR>7. 測定方法3(試料調製法、操作法)<BR>8. データー解析法1(基礎編)<BR>9. データー解析法2(応用編)<BR>10. まとめ<BR><BR>注 センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。