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授業科目名
担当教員
機器分析特論IF
近藤 英一
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
320110F 1 (未登録) 1 集中 (未登録) (未登録)
[概要と目標]
高精度形状物性測定システムは複数の装置からなる。全体の構成ならびに特定の装置の原理・特長と操作法を学ぶ
[到達目標]
高精度形状物性測定システムにどんなものがあるか。それぞれの違いは何か。ある特定の装置の原理・特長と操作法の理解。以上について学ぶ。
[必要知識・準備]
材料の工学一般
[評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1受講態度 50  %取り組み状況 
2発表/表現等 50  %正確性、積極性、感受性 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
(未登録)
[講義項目]
高精度形状物性測定システムについて。<BR>それぞれの装置の原理、構成、特長<BR>一台を例として特定の装置の原理・特長と操作法の理解