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授業科目名
担当教員
機器分析特論IA
山中 淳二
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
320110A 1 (未登録) 1 集中 (未登録) (未登録)
[概要と目標]
材料系試料の,透過電子顕微鏡による実際的観察手法を,身につける.
[到達目標]
透過電子顕微鏡の構造の基礎を理解する.<BR>山梨大学機器分析センターに設置されている透過電子顕微鏡を,実際に自身で操作する能力を身につける.
[必要知識・準備]
必須項目として,下記1から3の全条件を満たしていること.<BR>1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること.<BR>2. 大学の理系学部において,何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること.または,これと同等以上の能力があると客観的に判断できること.<BR>3. 学位論文指導教員が,機器分析センターの透過電子顕微鏡を使用することに同意していること.<BR><BR>なお,自身の学位論文のための研究として,透過電子顕微鏡を用いる具体的目標が定まっていることが望ましい.
[評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1小テスト/レポート 50  %小テスト(含口頭試問)またはレポートにて,透過電子顕微鏡に関する基礎知識を習得したかどうかを,評価する. 
2発表/表現等 50  %実際に機器分析センターの透過電子顕微鏡を操作し,安全に,且つ,正しいデータを得ることができる能力を身につけたかどうかを,評価する. 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
(未登録)
[講義項目]
1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法1試料調製法、操作法)<BR>6. 測定方法2(試料調製法、操作法)<BR>7. 測定方法3(試料調製法、操作法)<BR>8. データー解析法1(基礎編)<BR>9. データー解析法2(応用編)<BR>10. まとめ<BR><BR>注1.センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。<BR><BR>注2. 学部4年次で単位を取得した後に使用している機器に関する科目は、改めて履修する必要はない。<BR><BR>注3. 透過電子顕微鏡には,様々な使用方法・様々な試料調製方法がある.講義の前半で,どのような手法に重きを置いて学習するかを,受講生と授業担当者,授業担当補助者で,相談して決定する.