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授業科目名
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担当教員
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機器分析特別講義IIIＤ
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高橋 正樹
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| TPC416 | 1 | 機器分析センター科目 | 4 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||
| ［概要］ | ||||||||||||||
| フーリエ変換赤外分光光度計を利用して化学物質の赤外測定を可能にする | ||||||||||||||
| ［具体的な達成目標］ | ||||||||||||||
| フーリエ変換赤外分光光度計の操作が可能になる | ||||||||||||||
| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||
| 赤外分光法の基礎 | ||||||||||||||
| ［評価方法・評価基準］ | ||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||
| 1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法１（試料調整法、操作法）<BR>6. 測定方法２（試料調整法、操作法）<BR>7. 測定方法３（試料調整法、操作法）<BR>8. データー解析法１（基礎編）<BR>9. データー解析法２（応用編）<BR>10. まとめ | ||||||||||||||
| ［教育方法］ | ||||||||||||||
| 赤外分光法の原理及び試料調整法を理解させ、試料の形態に応じた測定法を学ばせる | ||||||||||||||
| ［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］ | ||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||
| ［その他］ | ||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||