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授業科目名
担当教員
機器分析特別講義IIIC
川久保 進/鈴木 保任/勝又 まさ代
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
TPC415 1 機器分析センター科目 4 集中 (未登録) (未登録)
[概要]
無機成分の分析装置である誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP/OES) 及び蛍光X線分析装置 (XRF) の原理、構造、応用法について学ぶとともに、分析のための試料の前処理法、分析操作などの実習を行なう。
[具体的な達成目標]
・ICP/OES、XRFの原理と構造を理解する。
・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な分析装置を選択できるようになる。
・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な前処理、濃縮法などを選択し、実施できるようになる。
・装置の操作法を習得する。
[必要知識・準備]
・基礎的な化学及び試薬に関する知識
・測定したい試料に関する知識 (組成、物性等)
・溶液の調製、希釈等、基本的な化学実験の経験
[評価方法・評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1小テスト/レポート 80  %実習の結果をレポートとしてまとめて提出する。操作が可能なレベルにあるかどうかを判断する。 
2受講態度 20  %講義、実習に集中して参加しているかどうかを評価する。 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
  1. 田中誠之・飯田芳男, 基礎化学選書7 機器分析(三訂版), 裳華房, ISBN:978-4-7853-3133-7
[講義項目]
1. 誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP/OES) の構造と原理
 原子スペクトル分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。
2. 蛍光X線分析装置 (XRF) の原理と構造
 他のX線分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。
3. 標準溶液の調製法
 検量線作成に必要な標準溶液の調製法について解説する。
4. 酸分解などの溶液試料調製法
 主に、ICP/OESで測定する際に必要となる、固体試料の溶液化の方法として広く用いられる、過塩素酸分解、フッ化水素酸分解、マイクロ波分解法などを解説する。
5. 固体試料の調製法
 XRF分析のための試料調製法として、粉末試料を固化させるためのガラスビード法や高圧プレス法について解説する。
6. 試料調製
 受講者の研究で用いる試料を自身で前処理するとともに、測定に必要な標準溶液を調製する。(実習)
7. 測定
 6で調製した試料を用い、実際に測定する。
8. まとめ
 6, 7 の結果をレポートしてまとめる。
[教育方法]
基本的な原理、構造等の解説、試料の前処理法などについては講義として実施する。また、試料調製及び機器の操作については、受講者が自ら行なう実習形式とする。
[JABEEプログラムの学習・教育目標との対応]
(未登録)
[その他]
(未登録)