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授業科目名
担当教員
機器分析特別講義IIA
佐藤  博
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
TPC410 1 機器分析センター科目 4 集中 (未登録) (未登録)
[概要]
 X線回折測定による実際的解析手法を,身につける.
[具体的な達成目標]
 X線回折の構造の基礎を理解する.
 山梨大学機器分析センターに設置されているX線回折装置を,実際に自身で操作する能力を身につける
[必要知識・準備]
1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること.
2. 大学の理系学部において,何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること.または,これと同等以上の能力があると客観的に判断できること.
3. 学位論文指導教員が,機器分析センターのX線回折装置を使用することに同意していること.
[評価方法・評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1小テスト/レポート 50  %小テスト(含口頭試問)またはレポートにて,X線回折装置に関する基礎知識を習得した課どうかを,評価する. 
2発表/表現等 50  %実際に機器分析センターのX線回折装置を操作し,安全に,且つ,正しいデータを得ることができる能力を身につけたかどうかを,評価する. 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
(未登録)
[講義項目]
1. 測定目的
2. 測定原理
3. 装置原理
4. 装置の点検・保守
5. 測定方法1試料調製法、操作法)
6. 測定方法2(試料調製法、操作法)
7. 測定方法3(試料調製法、操作法)
8. データー解析法1(基礎編)
9. データー解析法2(応用編)
10. まとめ

注1.センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。
[教育方法]
 配布資料と実機を用いて,実践的内容を教育する.
[JABEEプログラムの学習・教育目標との対応]
(未登録)
[その他]
(未登録)