|
授業科目名
|
担当教員
|
|||||||||||||||||
|
機器分析特別講義IIＡ
|
佐藤 博
|
|||||||||||||||||
|
時間割番号
|
単位数
|
コース
|
履修年次
|
期別
|
曜日
|
時限
|
||||||||||||
| TPC410 | 1 | 機器分析センター科目 | 4 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要］ | ||||||||||||||||||
| Ｘ線回折測定による実際的解析手法を，身につける． | ||||||||||||||||||
| ［具体的な達成目標］ | ||||||||||||||||||
| Ｘ線回折の構造の基礎を理解する．<BR> 山梨大学機器分析センターに設置されているＸ線回折装置を，実際に自身で操作する能力を身につける | ||||||||||||||||||
| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| 1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること．<BR>2. 大学の理系学部において，何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること．または，これと同等以上の能力があると客観的に判断できること．<BR>3. 学位論文指導教員が，機器分析センターのＸ線回折装置を使用することに同意していること． | ||||||||||||||||||
| ［評価方法・評価基準］ | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法1試料調製法、操作法）<BR>6. 測定方法2（試料調製法、操作法）<BR>7. 測定方法3（試料調製法、操作法）<BR>8. データー解析法1（基礎編）<BR>9. データー解析法2（応用編）<BR>10. まとめ<BR><BR>注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。 | ||||||||||||||||||
| ［教育方法］ | ||||||||||||||||||
| 配布資料と実機を用いて，実践的内容を教育する． | ||||||||||||||||||
| ［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［その他］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||