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授業科目名
担当教員
機器分析特別講義ID
佐藤 哲也/篠塚 郷貴
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
TPC406 1 機器分析センター科目 4 集中 (未登録) (未登録)
[概要]
X線光電子分光法(XPS)は固体表面にX線を照射して励起・放出される光電子のエネルギーを分析することにより、様々な固体材料の表面化学状態分析を容易に行うことができる。XPSの原理を学び、装置の操作方法およびスペクトル解析法を習得する。
[具体的な達成目標]
1.X線光電子分光法の原理を理解する。
2.測定の原理を理解し装置の基本的な操作方法を習得する。
3.測定データの基本的な解析方法を習得する。
[必要知識・準備]
真空技術、表面、分光学に関する基礎知識
[評価方法・評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1小テスト/レポート 50  %測定原理に関する理解度 
2受講態度 50  %操作方法についての理解度、積極性 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
  1. 日本表面科学会 編, X線光電子分光法, 丸善, ISBN:4-621-04469-9
[講義項目]
1. 測定目的
2. 測定原理
3. 装置原理
4. 装置の点検・保守 
5. 装置の操作方法(試料準備、測定方法)
6. 定性分析
7.定量分析
8. データ解析法I(基礎編)
9. データ解析法II(応用編)
10. まとめ

注1.センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。
注2. 学部4年次で単位を取得した後に使用している機器に関する科目は、改めて履修する必要はない。
[教育方法]
XPSの原理や特徴を十分に理解させた上で、装置の正しい使用法ならびに解析方法を指導することにより、卒業研究に十分活用できるようにする
[JABEEプログラムの学習・教育目標との対応]
(未登録)
[その他]
(未登録)