授業科目名				担当教員
固体分析科学				山中　淳二
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
TAM219	2	(未登録)	2	後期	火	II
［概要］
物質科学や材料工学分野の研究にとって重要な，各種分析手法の基礎原理を理解する．
［具体的な達成目標］
各種分析手法の基礎原理を理解する．<BR>各種分析手法の長所と短所を理解する(将来，目的に応じた分析手法の使い分けができるようになるための基礎知識として).
［必要知識・準備］
理系学部の大学1年生レベルの物理を理解していること．<BR>理系学部の大学1年生レベルの化学を理解していること．
［評価方法・評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 試験：期末期  45  % 後半で学んだ分析手法にの原理と特徴について理解しているかどうかを評価する．  2 試験：中間期  45  % 前半で学んだ分析手法にの原理と特徴について理解しているかどうかを評価する．  3 小テスト／レポート  10  % 目的に応じた分析手法の選択ができるような基礎知識を，得たかどうかを評価する．
［教科書］
(未登録)
［参考書］
アトキンス, 物理化学(上)第８版, 東京化学同人, ISBN:9784807906956 アトキンス 物理化学(下)第８版, 東京化学同人, ISBN:9784807906963
［講義項目］
15回の講義の中で，概ね下記15項目を講義する．<BR>必要に応じて，関連する基礎学問についても講義する．<BR>必要に応じて，講義順序の変更，各講義項目の時間配分を変更する場合もある．<BR><BR>1. 各種機器分析装置とそれらの用途の紹介<BR>2. 電子線源の原理<BR>3. 走査電子顕微鏡(SEM)<BR>4. 電子によるX線の発生， EDX<BR>5. オージェ分光分析<BR>6. XPS<BR>7. 中間期での総括と試験<BR>8. 結晶と回折の基礎， X線回折(粉末X線回折)<BR>9. X線回折(種々の手法)，EPMA(WDX, XMA)<BR>10. 結晶からの回折上級編-1<BR>11. 結晶からの回折上級編-2<BR>12. 透過電子顕微鏡(TEM)-装置<BR>13. 透過電子顕微鏡(TEM)-観察手法<BR>14. 後半の総括と試験<BR>15. 講義全体の総括(状況により，他の分析手法紹介，最終レポート課題提示をする場合がある)
［教育方法］
板書またはプロジェクターによる説明と，配布資料を用いて，講義をすすめる．
［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］
(未登録)
［その他］
*配布資料を用いない場合もあるので，毎回ノートを持参すること．<BR><BR>*評価における，各試験とレポートの割合は，講義中に受講生と相談して変更する場合がある．