授業科目名				指導教員
計測物理工学特論				渡辺　勝儀
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
417740	2	(未登録)	1	前期	金	I
［概要と目標］
材料などの研究・開発において、光、電流、電子線、X線などを用いて様々な計測を行う。さらに、原子レベルの長さでの測定、極短時間領域での測定、微小電流の測定など極限的な測定技術が必要なことがある。それらに必要な実験装置とともに、技術の基礎となる理論を物理学の立場から学ぶ。
[到達目標]
上記の計測技術の知識を得た上で、物理学的に理解すること。
［専攻の目標と講義の目標との関連性］
上記の技術は材料や素子などの研究開発に利用されるので、物理学的に理解しておく必要がある。
［必要知識・準備］
力学、電磁気学、量子力学の基本、学部レベルの物理学系の実験及び機械工学系の実験を理解していることが望ましい。
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  80  % 計測技術や物理的モデルの理解力、論理的思考力、数式や図及び文書の作成力を評価する  2 受講態度  20  % 授業での教員との質疑応用も評価する
［教科書］
(未登録)
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
第１回　原子・分子の凝縮機構<BR>第２回　薄膜作成技術<BR>第３回　半導体ヘテロ構造作成技術<BR>第４回　X線回折による結晶構造や格子定数の決定<BR>第５回　透過型電子顕微鏡<BR>第６回　走査型トンネル顕微鏡<BR>第７回　電子顕微鏡によるその場観察<BR>第８回　原子間力顕微鏡による表面形状の観測<BR>第９回　光と物質の相互作用（１）<BR>第１０回　光と物質の相互作用（２）<BR>第１１回　発光素子<BR>第１２回　光スペクトルの測定（１）<BR>第１３回　光スペクトルの測定（２）<BR>第１４回　短時間領域の光信号の測定<BR>第１５回　微小電流測定