授業科目名				担当教員
機器分析特論IＣ				田中　功／綿打　敏司／鍋谷　暢一
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
320110C	1	(未登録)	1	集中	(未登録)	(未登録)
［概要と目標］
X線マイクロアナライザーは、走査型電子顕微鏡とX線分光元素分析の機能を備えた分析装置であり、固体表面の数ミクロン領域から数センチサイズまでの領域を組成分析するのに有効である。<BR>　X線マイクロアナライザーの測定原理や特徴を理解した上で、電子顕微鏡観察、定性分析、定量分析の測定技術を習得する。
[到達目標]
1. X線マイクロアナライザーの測定原理や装置原理を理解している。<BR>2. 電子顕微鏡観察技術を習得している。<BR>3. 定性分析技術を習得している。<BR>4. 定量分析技術を習得している。
［必要知識・準備］
X線回折法や分光学について理解していること。
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  50  % 測定を行ううえで必要不可欠な基礎知識の理解度  2 受講態度  50  % 装置を使った実習受講における積極性や理解度
［教科書］
(未登録)
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 走査電子顕微鏡観察法（試料調製法、操作法）<BR>6. Ｘ線定性分析法<BR>7. Ｘ線定量分析法<BR>8. データ解析法I（基礎編）<BR>9. データ解析法II（応用編）<BR>10. まとめ<BR><BR>注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。<BR>注２. 学部4年次で単位を取得した後に使用している機器に関する科目は、改めて履修する必要はない。