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授業科目名
担当教員
機器分析特論IIB
熊田 伸弘
時間割番号
単位数
コース
履修年次
期別
曜日
時限
GTI509 1 (未登録) 1 集中 (未登録) (未登録)
[概要と目標]
単結晶X線構造解析装置の理解
[到達目標]
単結晶X線構造解析用データの収集および解析
[必要知識・準備]
X線結晶学
[評価基準]
No評価項目割合評価の観点
1小テスト/レポート 50  %実際の測定および解析 
2受講態度 50  %実際の測定および解析 
[教科書]
(未登録)
[参考書]
(未登録)
[講義項目]
1単結晶X線構造解析装置の理解<BR>2単結晶X線構造解析装置の理解<BR>3測定原理<BR>4測定原理<BR>5解析ソフトの使い方<BR>6解析ソフトの使い方<BR>7解析結果の解釈