授業科目名				担当教員
機器分析特論IIＢ				熊田　伸弘
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
320111B	1	(未登録)	1	集中	(未登録)	(未登録)
［概要と目標］
単結晶を用いた結晶構造解析技術の習得
[到達目標]
単結晶を用いた結晶構造解析技術の習得
［必要知識・準備］
結晶学<BR>Ｘ線回折学<BR>結晶構造解析
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 試験：期末期  10  % 測定原理の習得  2 試験：中間期  10  % 解析方法の習得  3 小テスト／レポート  40  % 実際の測定および解析  4 受講態度  30  % 実際の測定および解析  5 発表／表現等  10  % 実際の測定および解析
［教科書］
桜井敏雄, Ｘ線結晶解析の手引き
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法（試料調整法、操作法）<BR>6. 測定方法（試料調整法、操作法）<BR>7. 測定方法（試料調整法、操作法）<BR>8. データー解析法（基礎編）<BR>9. データー解析法（応用編）<BR>10.まとめ