授業科目名				担当教員
機器分析特論IIＡ				佐藤　　博
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
320111A	1	(未登録)	1	集中	(未登録)	(未登録)
［概要と目標］
Ｘ線回折装置による測定法を，身につける．
[到達目標]
Ｘ線回折装置の構造の基礎を理解する．<BR>　山梨大学機器分析センターに設置されているＸ線回折装置を，実際に自身で操作する能力を身につける．
［必要知識・準備］
必須項目として，下記1から3の全条件を満たしていること．<BR>1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること．<BR>2. 大学の理系学部において，何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること．または，これと同等以上の能力があると客観的に判断できること．<BR>3. 学位論文指導教員が，機器分析センターのＸ線回折装置を使用することに同意していること．
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  50  % 小テスト(含口頭試問)またはレポートにて，Ｘ線回折装置に関する基礎知識を習得した課どうかを，評価する．  2 発表／表現等  50  % 実際に機器分析センターのＸ線回折装置を操作し，安全に，且つ，正しいデータを得ることができる能力を身につけたかどうかを，評価する
［教科書］
(未登録)
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法1試料調製法、操作法）<BR>6. 測定方法2（試料調製法、操作法）<BR>7. 測定方法3（試料調製法、操作法）<BR>8. データー解析法1（基礎編）<BR>9. データー解析法2（応用編）<BR>10. まとめ<BR><BR>注　センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。