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授業科目名
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担当教員
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機器分析特別講義IIIＣ
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川久保 進／鈴木 保任
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| 298003C | 1 | (未登録) | 4 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要］ | ||||||||||||||||||
| 無機成分の分析装置である誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP/OES) 及び蛍光X線分析装置 (XRF) の原理、構造、応用法について学ぶとともに、分析のための試料の前処理法、分析操作などの実習を行なう。 | ||||||||||||||||||
| ［具体的な達成目標］ | ||||||||||||||||||
| ・ICP/OES、XRFの原理と構造を理解する。<BR>・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な分析装置を選択できるようになる。<BR>・試料、目的成分、濃度等に応じて適切な前処理、濃縮法などを選択し、実施できるようになる。<BR>・装置の操作法を習得する。 | ||||||||||||||||||
| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| ・基礎的な化学及び試薬に関する知識<BR>・測定したい試料に関する知識 (組成、物性等)<BR>・溶液の調製、希釈等、基本的な化学実験の経験 | ||||||||||||||||||
| ［評価方法・評価基準］ | ||||||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1. 誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP/OES) の構造と原理<BR> 原子スペクトル分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。<BR>2. 蛍光X線分析装置 (XRF) の原理と構造<BR> 他のX線分析法に関する概説も含み、構造や原理を解説する。<BR>3. 標準溶液の調製法<BR> 検量線作成に必要な標準溶液の調製法について解説する。<BR>4. 酸分解などの溶液試料調製法<BR> 主に、ICP/OESで測定する際に必要となる、固体試料の溶液化の方法として広く用いられる、過塩素酸分解、フッ化水素酸分解、マイクロ波分解法などを解説する。<BR>5. 固体試料の調製法<BR> XRF分析のための試料調製法として、粉末試料を固化させるためのガラスビード法や高圧プレス法について解説する。<BR>6. 試料調製<BR> 受講者の研究で用いる試料を自身で前処理するとともに、測定に必要な標準溶液を調製する。(実習)<BR>7. 測定<BR> 6で調製した試料を用い、実際に測定する。<BR>8. まとめ<BR> 6, 7 の結果をレポートしてまとめる。 | ||||||||||||||||||
| ［教育方法］ | ||||||||||||||||||
| 基本的な原理、構造等の解説、試料の前処理法などについては講義として実施する。また、試料調製及び機器の操作については、受講者が自ら行なう実習形式とする。 | ||||||||||||||||||
| ［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［その他］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||