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授業科目名
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担当教員
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機器分析特別講義ＩＢ
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山中 淳二／村中 司
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時間割番号
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単位数
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コース
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履修年次
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期別
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曜日
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時限
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| 298001B | 1 | (未登録) | 4 | 集中 | (未登録) | (未登録) | ||||||||||||
| ［概要］ | ||||||||||||||||||
| 走査電子顕微鏡による実際的観察手法を，身につける． | ||||||||||||||||||
| ［具体的な達成目標］ | ||||||||||||||||||
| 走査電子顕微鏡の構造の基礎を理解する．<BR>山梨大学機器分析センターに設置されている走査電子顕微鏡を，実際に自身で操作する能力を身につける． | ||||||||||||||||||
| ［必要知識・準備］ | ||||||||||||||||||
| 必須項目として，下記1から3の全条件を満たしていること．<BR>1. 理系学部の大学3年生レベルの物理と化学を習得していること．<BR>2. 大学の理系学部において，何らかの学生実験科目を履修し単位を修得していること．または，これと同等以上の能力があると客観的に判断できること．<BR>3. 学位論文指導教員が，機器分析センターの走査電子顕微鏡を使用することに同意していること．<BR><BR>なお，自身の学位論文のための研究として，走査電子顕微鏡を用いる具体的目標が定まっていることが望ましい． | ||||||||||||||||||
| ［評価方法・評価基準］ | ||||||||||||||||||
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| ［教科書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［参考書］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［講義項目］ | ||||||||||||||||||
| 1. 測定目的<BR>2. 測定原理<BR>3. 装置原理<BR>4. 装置の点検・保守<BR>5. 測定方法1試料調製法、操作法）<BR>6. 測定方法2（試料調製法、操作法）<BR>7. 測定方法3（試料調製法、操作法）<BR>8. データー解析法1（基礎編）<BR>9. データー解析法2（応用編）<BR>10. まとめ<BR><BR>注１．センターの機器を使用する場合には、予め、使用を希望する機器に関する科目を履修し、単位を取得する必要がある。<BR><BR>注２. 走査電子顕微鏡には，様々な使用方法・様々な試料調製方法がある．講義の前半で，どのような手法に重きを置いて学習するかを，受講生と授業担当者，授業担当補助者で，相談して決定する． | ||||||||||||||||||
| ［教育方法］ | ||||||||||||||||||
| 配布資料と実機を用いて，実践的内容を教育する． | ||||||||||||||||||
| ［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||
| ［その他］ | ||||||||||||||||||
| (未登録) | ||||||||||||||||||