授業科目名	化学特論I
時間割番号	544071
担当教員名	佃　俊明
開講学期・曜日・時限	前期・月・V	単位数	2
＜対象学生＞
１年
＜授業の目的および概要＞
単純な物質から工業製品、生命体に至る様々な化合物において、その構造決定やその状態に関する知見を得るために、今日では様々な機器を用いた分析手法が駆使されており、化学に接する上では必要不可欠なものとなっている。この講義では、質量分析法、紫外・可視分光法、赤外分光法、核磁気共鳴分光法等、機器分析の原理とその解析手法について解説する。
＜到達目標＞
紫外・可視分光法を初めとした機器分析の原理を理解し、学生が未知の試料を分析する際の測定法の選択が自らでできるようになること。
＜授業の方法＞
講義（化学特論演習Ｉとの対応）
＜成績評価の方法＞
No 評価項目 割合 評価の観点 1 その他  100  % 講義や演習における参加態度や理解度、およびレポートを基に評価する。
＜受講に際して・学生へのメッセージ＞
特になし
＜テキスト＞
(未登録)
＜参考書＞
(未登録)
＜授業計画の概要＞
１吸光光度法とランベルト＝ベールの法則<BR>２可視紫外吸収スペクトル<BR>３赤外吸収スペクトル<BR>４原子吸光と発光スペクトル<BR>５核磁気共鳴分光法（NMR）<BR>６常磁性共鳴分光法（EPR）<BR>７質量分析法<BR>８Ｘ線回折法（１）　単結晶構造解析<BR>９Ｘ線回折法（２）　粉末Ｘ線解析<BR>１０電気化学的分析法（１）　電位差滴定とpHメータ<BR>１１電気化学的分析法（２）　ボルタンメトリー<BR>１２クロマトグラフ分析<BR>１３放射線分析<BR>１４分子軌道計算<BR>１５まとめ