授業科目名				指導教員
無機材料化学特論第一				和田　智志
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
416251	2	(未登録)	1	前期	月	IV
［概要と目標］
幅広い無機材料の特性・性質とその設計・開発の指針、特性評価とその解析など、無機材料の設計から応用に至るまでの一貫した研究開発の素養を獲得することと、無機化合物の局所構造の解析法として必要であればXAFSを活用できることを目標とする。<BR>　いくつかの無機材料の特徴と開発の指針、局所構造から見たキャラクタリゼーションについて解説する。局所構造解析法としてＸ線吸収微細構造、XAFSについて、基本原理から応用例まで解説する。
[到達目標]
幅広い無機材料の特性・性質とその設計・開発の指針、特性評価とその解析など、無機材料の設計から解析に至るまでの一貫した研究開発の素養を獲得することを目標とする。
［専攻の目標と講義の目標との関連性］
無機材料に関する高度な知識と最先端の技術を備える。
［必要知識・準備］
固体化学、分子構造、分光学についての基礎知識
［評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 小テスト／レポート  100  % 授業の内容を自らの研究と関連させどのように発展させられるかについて、レポートにより評価する。
［教科書］
(未登録)
［参考書］
自ら適切な参考図書・文献を選び出すことを求める。
［講義項目］
1. 機能無機材料<BR>2. 誘電体無機材料<BR>3. 圧電体無機材料<BR>4. 電子デバイスへの応用<BR>5. Ｘ線と物質の相互作用<BR>6. Ｘ線を使う物質の分析・解析法<BR>7. 原子軌道の内殻順位<BR>8. Ｘ線の吸収<BR>9. XAFSの原理<BR>10. XAFSの解析<BR>11. XAFSの測定<BR>12. XAFSの応用 I<BR>13. XAFSの応用 II<BR>14. まとめ<BR>15. 総括評価