授業科目名				担当教員
無機機器分析				川久保　進
時間割番号	単位数	コース	履修年次	期別	曜日	時限
275091	2	AA,CP	3	前期	金	II
［概要］
無機成分の分析に広く用いられる、吸光光度分析法・蛍光分析法・化学発光法、原子スペクトル分析法（原子吸光法・フレーム分析法・発光分光法）、電気化学分析法、Ｘ線分析法、ＩＣＰ質量分析法、熱分析法について、原理・装置・応用などを講義する。
［具体的な達成目標］
１．代表的な機器分析法の特徴を理解する。<BR>２．様々な分析課題に対して適切な機器分析法を選択し、分析結果を正しく評価できる力を養う。
［必要知識・準備］
「基礎分析化学」及び「分析化学」をよく理解しておくこと。物理の基礎的知識を必要とする。
［評価方法・評価基準］
No 評価項目 割合 評価の観点 1 試験：期末期  50  % 講義内容全体の理解度  2 小テスト／レポート課題  30  % 単位毎の講義内容の理解度  3 平常点／受講態度  20  % 出席状況
［教科書］
田中誠之・飯田芳男著, 「機器分析（三訂版）」, 裳華房, ISBN:478533133X
［参考書］
(未登録)
［講義項目］
１．序論（１回）<BR>　　２．吸光光度分析法・関連分析法（２回）<BR>　　３．蛍光分析法・化学発光法（３回）<BR>　　４．原子スペクトル分析法（原子吸光法）（４回）<BR>　　５．原子スペクトル分析法（フレーム分析法・発光分光法）（５回）<BR>　　６．原子スペクトル分析法（発光分光法）（６回）<BR>　　７．電気化学分析法（電位差分析法・化学センサー法・電解重量分析法）（７回）<BR>　　８．電気化学分析法（電量分析法・ボルタンメトリー・電導度分析法）（８回）<BR>　　９．Ｘ線分析法（Ｘ線分析法の基礎）（９回）<BR>　１０．Ｘ線分析法（蛍光Ｘ線法）（１０回）<BR>　１１．Ｘ線分析法（Ｘ線回折法）（１１回）<BR>　１２．質量分析法の基礎（１２回）<BR>　１３．ＩＣＰ質量分析法（１３回）<BR>　１３．熱分析法（熱重量測定法・示差熱分析法・示差走査熱量測定法）（１４回）<BR>　１４．総括評価（試験など）（１５回）
［教育方法］
(1) 別途配布する演習問題集を使って単元ごとに演習小テストを実施し、学習した内容を確認しながら講義を進める。<BR>(2) 指定した教科書の内容をまとめ、補ったものを資料として配布し、さらにOHPでも投影し、講義に集中できるようにする。<BR>(3) 演習問題集の解答の添削に応じ、理解度に合わせた自習ができるようにする。
［JABEEプログラムの学習・教育目標との対応］
(未登録)
［その他］
１．理解を深めるために、図書館所蔵の分析化学に関する学習図書の利用を勧める。<BR>２．特別な理由のない限り、再試験は実施しない。